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主营产品:X射线荧光光谱仪

ZSX Primus波长X射线荧光光谱仪对片状切削的钢种的判别

点击次数:640  更新时间:2023-03-03

广州仪德公司专业代理日本理学波长X射线荧光光谱仪,在近年来,在X射线荧光分析的样品置备方面,对微小及微量样品的要求日趋严格。针对用传统仪器不能解决的样品制备及测试等问题,通过对仪器的高灵敏度化和新方法的开发,不仅解决了以上问题,而且应用范围越来越广泛。


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下面分享如何应用ZSX Primus系列波长X射线荧光光谱仪能够以CCD相机拍摄样品表面后得到的图象为基础,任意测试位置进行定性分析的仪器,通过对一片片状切削屑进行定性分析及半定量值分析的结果,判别其钢种。


操作部分


一、仪器


波长色散X射线荧光光谱仪(ZSX Primus系列,仪德代理)


二、样品制备


将样品放在有黏着剂的薄板上加压成型备用。


三、测试条件


元素

F~Mg

Al,Si

P,S

Cl

K,Ca

Ti~U

X射线管

端窗型 Rh管

kV-mA

30-120

30-120

30-120

30-120

40-90

50-72

分析直径

0.5mm

狭缝

标准分辨率

标准分辨率

标准分辨率

高分辨率

标准分辨率

标准分辨率

分光晶体

TAP

PET

Ge

Ge

LiF200

LiF200

检测器

F-PC

F-PC

F-PC

F-PC

F-PC

SC

PHA

微分法

X射线通道

真空


四、测试结果


将样品作片状切削后,切削屑变形为圆锥形。放在附着黏合剂的薄板上加压成型后,放入微区分析专用样品架中。


39.jpg


上图显示出CCD相机拍摄的样品表面图。将分析面积设定在0.5mmφ进行定性分析。


通过定性分析,检测出Fe,Cr,V,W,Mo等元素。如下图所示,得到了充分体现波长色散型仪器的特征---具有高精度角度分辨率,而且散射线(背景)低的图表。


40.jpg

Fe,Co

41.jpg

Cr

42.jpg

V

43.jpg

W,Cu

44.jpg

Mo


关于检测出的成分,使用仪器内置的灵敏度数据库,通过FP法计算出半定量值,结果如下图所示。根据牌号库,可以确认片状切削屑为工具钢的一种。


表-1    SQX分析结果和样品规格[mass%]


SQX

SKH10(例)

Mn

0.35

<0.40

Cr

4.2

3.80   - 4.50

Mo

0.69

-

V

4.6

4.20   - 5.20

W

12.3

11.50   - 13.50

Co

5.0

4.20   - 5.20

Cu

0.20

-

Fe

72.7

残分


五、实验总结


类似于这样的微量样品,通过选择合适的样品制备和分析方法,可以得到另人满意的分析数据。关于片状样品,使用X射线分析法能够有效分析出其构成钢种。今后,发挥样品测试后可以回收的特点,在微量样品定量值评价方面,会有新的用途。了解更多有关X射线荧光光谱仪的相关知识及应用方案,关注仪德微信公众号及,有对此有更好的看法可致仪德邮箱发表你的看法。


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