日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。
X射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为相关生产企业提供了一种检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等优点，适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。
日本理学波长色散X射线荧光光谱仪是一种扫描型荧光X射线分析仪，具有上照射类型。支持测量和分析，即使初学者也能轻松获得准确的分析结果。数字计数系统、高速驱动测角仪和优化的控制系统可实现高速、高精度测量。通过人工多层累积膜和真空控制机制，可以测量*轻元素。高规格型号还配备了安全可靠的设计，如人为错误预防功能、点映射分析和散射线SQX功能。
日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪应用领域：
地质样品领域：针对地质领域压片和熔片两类样品分别开发了应用方法体系，可以为地质研究、找矿提供可靠的检测数据。
建材样品领域：针对多种建材样品的分析需求，建立了水泥、涂料等样品应用方法体系，实现对样品的高精度分析。
新材料样品领域：能够解决新材料研究领域宽幅、无损、全元素分布分析的难题。
