日本理学波长色散X射线荧光光谱仪检测珠宝玉石

珠宝玉石检测中的X荧光光谱法

当下珠宝玉石行业，X荧光光谱法是珠宝玉石鉴定的主要手段之一。X射线荧光光谱技术在样品的主要成分无损定量和定性分析上得到广泛应用，成为贵金属饰品检测领域的重要手段。X射线作为一种电磁辐射，波长介于紫外线和射线之间，这种电磁辐射波长没有严格的界限，随着探测技术的发展，用X射线荧光光谱进行定量分析，已经成为了元素分析的重要手段。X荧光光谱法在当今珠宝玉石行业检测中得到了广泛应用，这一方法对宝石不会造成损伤，同时也能够提高检测效率。使用X射线照射被测物，被测物激发出不同波长的荧光X射线，用仪器对波长不同的X射线进行接收分离，从而判断其中的组成元素,对组成元素含量具体分析，检测出珠宝玉石是否是合成和有无经过优化处理等。X荧光光谱仪利用这一原理进行检测，有能量色散型X荧光光谱仪、波长色散型X荧光光谱仪之分。

X荧光光谱法在珠宝玉石检测中应用广泛，其主要优势体现在分析速度、检测对象、分析密度等多方面。X射线在珠宝玉石检测中不会对珠宝玉石造成损坏，与其他检测方式相比具有*的优势，同时也是对检测质量的有效保障。X荧光光谱仪分析速度快，在整个珠宝玉石检测上仅仅需要几分钟就可以完成对一件珠宝玉石元素含量的检测，检测速度极快，在实际珠宝检测中体现出明显的效率优势。X荧光光谱技术对检测对象的形状、形态等条件没有局限性，X荧光光谱仪在珠宝玉石检测工作中不会受宝石形状、化学结合状态等条件影响，适用性广泛。X荧光光谱技术在珠宝玉石检测中的分析精密度*，这是电磁辐射在珠宝玉石检测中的优势，这种物理分析方法对检测物中元素的化学性质分析有很高的效率，随着现代科学技术的飞速发展，X荧光光谱技术在珠宝玉石检测领域的应用会在泛度和深度上得到更大发展。

X荧光光谱仪在珠宝玉石检测中的应用

X荧光光谱仪在珠宝玉石检测中的具体应用主要有相似珠宝玉石鉴别、优化处理珠宝玉石鉴别、类质同象珠宝玉石研究等几个方面，同时在珠宝玉石元素的方面，从实际检测数据分析中可以验证X荧光光谱仪在珠宝玉石检测上的可行性，这对解决传统检测手段无法测出一些珠宝玉石中的元素类别、含量等问题上有很大帮助。

X荧光光谱技术在珠宝玉石无损检测上的高效率体现在相似珠宝玉石的鉴定上，从珠宝玉石的元素组成上对相似珠宝玉石进行鉴定和辅助分析。珠宝玉石原料种类较多，存在性质相似的情况，传统检测手段很难有精准的检测结果，一些原料品种在外观形态上很难区分，内部折射率和密度也极为相似，在传统检测手段上存在较大难度，应用X荧光光谱仪进行技术分析，对相似珠宝玉石的内部元素含量进行更为精确的分析，从X射线荧光光谱图中可以很容易区分出来相似珠宝玉石的不同之处。这一技术在鉴别紫晶和紫色方柱石等相似类型的宝石上有显著的效率优势。

X荧光光谱仪对当今珠宝玉石行业中优化处理技术下的宝石也有明显优势，对优化处理后的珠宝玉石进行技术分析，鉴别天然宝石和人工合成技术下的成品，现代优化处理技术下出现的高仿珠宝玉石成品流入珠宝玉石市场，很容易迷惑消费者。因此通过X荧光光谱仪对优化处理技术产生的人工合成品进行鉴别，能够帮助消费者识别优化处理珠宝玉石与天然宝石。珠宝玉石中的红宝石人工合成制作过程中采用铅玻璃填充方法，其效果与天然红宝石相似性较高，X荧光光谱仪能够分辨出两者之间的差异性，人工合成品中明显的铅元素在X荧光光谱仪中能够较容易鉴别出来与天然红宝石的细微不同之处。宝石优化处理技术在X荧光光谱仪应用于珠宝玉石检测后能够更容易鉴别出来，同时X荧光光谱仪在辅助分析、鉴别合成翡翠、珍珠等珠宝玉石方面也有着明显优势。

X荧光光谱仪在珠宝玉石检测中的应用还体现在类质同象珠宝玉石方面上，类质同象在珠宝玉石检测中主要是晶体结构中的离子、原子等结构类型上的线性变化现象，在这一现象的检测研究上确定珠宝玉石中类质同象系列的名称，能够有效提升珠宝玉石检测的效率和质量，这一过程中X荧光光谱仪的应用有着重要作用，珠宝玉石中的元素分析和含量统计分析为类质同象珠宝玉石的准确性检测体提供了有效的数据帮助。X荧光光谱仪随着X射线荧光光谱技术的发展不断发展完善，在珠宝玉石鉴定领域依靠技术手段提高检测的效率，不仅适用于以上几种珠宝玉石检测情况，随着未来科学技术水平的不断提高，珠宝玉石行业的发展也会不断出现新的发展方向。

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪

ZSX Primus IV

1.高度可靠性的上照射式光学系统
ZSX Primus IV具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。

2.高精度样品定位
高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus IV使用一个*的光学配置执行高精度分析，用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

3.SQX 基本参数软件与EZ扫描软件
用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件，快速提供最准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子（轻、超轻元素）、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和扫描分析程序提高准确性。