主营产品:X射线荧光光谱仪
新一代SPECTROLAB的分析速度、灵活性和精度需求日益提升,PMT/CCD双检测器光学系统和全新突破的CCD光学系统为科研和过程/质量控制设定了新的标准。实现了快速、准确、灵活的分析性能。
两种配置:双检测器光学系统或全CCD光学系统
SPECTROLAB提供高性能火花直读光谱仪的两种光学系统创新设计。双检测器模块实现了“混合动力”优势,模拟电子技术的检测器光电倍增管(PMT)和数字技术电荷耦合检测器(CCD)-呈现超级准确度多元素测量。适合于科研检测新材料、痕量元素、夹杂物、高纯金属以及贵金属。
全CCD模块实现了快速、准确、超级灵活的分析性能。尤其适合快速分析和多基体以及多元素分析的应用。为炉前过程控制和成品质量控制和成品质量控制提分析结果。
灵敏度高
利益于动态背景校正等新技术,检测限达到新水平。SPECTROLAB可以准确测定百分之一(PPM)水平的痕量元素含量。
灵活的元素选择
摒弃了以往耗时,昂贵的硬件通道扩展方式。大多数SPECTRLAB用户日后增加元素通道将无需增加硬件设置。可选的软件扩展设置使得用户甚至可以不用准备标样制作工作曲线。
高速测量
SPECTROLAB的设计是以抓住每一个机会来满足金属分析对速度的需求。例如,高能等离子发生器光源配合的动态预然控制,实现缩短优质试样分析时间。因而,瞬间切换到激发测量阶段。增加单位时间样品测试数量。在许多应用中都可以实现超级短的分析时间。