X射线荧光光谱仪的使用原理

X射线荧光光谱仪简介

采用X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪）测量，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。

X射线荧光分析被广泛应用于元素和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材领域的调查和研究。在地球化学，法医学，考古学和艺术品等领域也有涉及，例如油画和壁画的鉴定。

X射线荧光的物理原理

当材料暴露在短波长X光检查或伽马射线时，其组成原子可能会发生电离。如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离时，就足以驱逐内层轨道的电子，然而这会使得原子的电子结构不稳定。此时，在外轨道的电子就会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。

回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。

X射线荧光光谱仪的使用型态

XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出，造成核外电子的跃迁。在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光。元素不同，会放出不同的各自特征的X光，并且具有不同的能量和波长特性。

检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。在某种程度上X射线光谱仪与原子吸收光谱仪互补，大大减少了工厂附设的品管实验室的分析人力投入。