新开发的分析技术：偏振X射线用于荧光分析

  德国斯派克分析仪器公司开发出了一种新技术，那就是把偏振X射线应用于荧光分析，这种技术极其成功。

  像如今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样，这种先进的分析技术也成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。

  斯派克分析仪器公司不断发展这一技术，并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。

  SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件，由此获得了较好的灵敏度和准确性。偏振刺激靶的设计，确保激发的进行。12位样品自动交换器、预先安装好的应用软件包和智能软件模块，使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。

  扩展的偏振光学系统的辐射源*采用50W低能量的X射线管，可用于Na-U元素的同时分析。从X射线中发出的原始X射线通过高通量偏振光学系统进行转换，可以得到*偏振且部分单色的X射线，由此能够高灵敏地测定各种元素。这种分析技术在许多应用中不需要高吸收辐射的滤光片。