X射线荧光光谱仪分析快，测定用时短
X射线荧光分析是一种物理分析方法， X射线荧光光谱仪分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射，通过侧里和分析样品产生的的产生与特性当用高能电子束照射样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续潜或韧致辐射。另一方面，化学元素受到高能光子或粒子的照射，如内层电子被激发，则当外层电子跃迁时，就会放射出特征X射线。
X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。
下面我们来看看X射线荧光光谱仪的性能主要可以分为以下几个方面：
1、噪声等效功率和动态范围。当信号的值与噪声的值相当的时候，从噪声中分辨信号就会困难。一般用与噪声相当的信号的值来表征能一个光谱仪所能够测量的弱的光强。噪声等效功率越小，光谱仪就可以测量弱的信号。
2、敏度与信噪比。敏度描述了X荧光光谱仪把光信号变成电子学信号的能力，高的敏度减小电路本身的噪声对结果影响。狭缝的宽度、光栅的类型、探测器的类型以及电路的参数都会影响敏度。人为地调高前置放大电数也会提高名义上的敏度，但并不实际的测量。
3、波长范围。波长范围是X荧光光谱仪所能测量的波长区间。使用新型探测器可以使之前的范围拓展一些距离，即覆盖紫外、可见和近红外波段。光栅的类型以及探测器的类型会影响波长范围。
4、波长分辨率。波长分辨率描述了光谱仪能够分辨波长的能力，波长分辨率与波长的取样间隔是两个不一样的概念。高的波长分辨率意味着窄额度波长范围。
以上就是对X射线荧光光谱仪的相关介绍，供大家参考！
